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扫描电镜/扫描电子显微镜

赛默飞化学分析仪器
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扫描电镜/扫描电子显微镜

扫描电镜/扫描电子显微镜

扫描电镜/扫描电子显微镜是介于透射电镜和光学显微镜之间的一种微观形貌观察手段,可直接利用样品表面材料的物质性能进行微观成像。主要是利用二次电子信号成像来观察样品的表面形态,即用极狭窄的电子束去扫描样品,通过电子束与样品的相互作用产生各种效应,其中主要是样品的二次电子发射。 目前的扫描电镜都配有X射线能谱仪装置,这样可以同时进行显微组织形貌的观察和微区成分分析。
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扫描电镜/扫描电子显微镜产品列表
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日立高新AeroSurf1500 台式扫描电镜

日立高新AeroSurf1500 台式扫描电镜

  • 品牌: 日立
  • 型号: AeroSurf1500
  • 产地:日本
  • 供应商:天美(中国)科学仪器有限公司

    产品简介日立高新AeroSurf1500 台式扫描电镜2016年,日立高新公司推出第一台大气压下扫描电子显微镜AeroSurf1500,其独特的设计可在大气压下得到清晰的扫描电子图像。产品特点1、可在大气压(105Pa)下得到SEM图像;2、台式扫描电镜设计;3、低真空下成分分析;4、优质的图像处理控制;应用领域1、食品检测;2、生物科技;3、刑侦医学;4、医药检测;5、环境监测。

JSM-7900F 热场发射扫描电子显微镜

JSM-7900F 热场发射扫描电子显微镜

  • 品牌: 日本电子
  • 型号: JSM-7900F
  • 产地:日本
  • 供应商:捷欧路(北京)科贸有限公司

    JEOL新一代场发射扫描电子显微镜的旗舰机型。 它继承了上一代广获好评的性能如极高的空间分辨率、高稳定性、多种功能等的同时,操作性能极大简单化。该设备不依赖操作者的技能,始终能够发挥其最佳性能。

日立高分辨冷场发射扫描电镜 SU9000

日立高分辨冷场发射扫描电镜 SU9000

  • 品牌: 日立
  • 型号: SU9000
  • 产地:日本
  • 供应商:天美(中国)科学仪器有限公司

    SU9000是世界上最高二次电子分辨率(0.4nm@30kV)和STEM分辨率(0.34nm@30kV)的扫描电镜。它采取了独特的真空系统和电子光学系统,不仅分辨率性能优异,而且作为冷场发射扫描电镜甚至不需要传统意义上的Flashing操作,可以快速稳定的进行超高分辨成像。?主要特点:1.  新型电子光学系统设计达到扫描电镜世界最高分辨率:二次电子0.4nm(30KV),STEM 0.34nm(30KV)。2.  用改良的高真空性能和无与伦比的电子束稳定性来实现高效率截面观察。3.  采用全新设计的Super E x B能量过滤技术,高效,灵活地收集SE / BSE/ STEM信号。 应用领域:1.      半导体器件2.      高分子材料3.      纳米材料4.      生命科学

【Hitachi】日立新型热场发射扫描电镜SU5000

【Hitachi】日立新型热场发射扫描电镜SU5000

  • 品牌: 日立
  • 型号: SU5000
  • 产地:日本
  • 供应商:天美(中国)科学仪器有限公司

    产品介绍:  日立全新一代热场发射扫描电镜SU5000继承了日立半导体行业扫描电镜CD-SEM高稳定性和易操作的特点,不仅具有强大的观察分析能力,同时具有全新的操作体验。SU5000既满足了专业电镜操作者对高分辨观察和分析的需求,也满足了电镜初学者对高质量图片的需求,是一台操作简便且功能强大的扫描电镜。主要特点:? 高稳定性热场发射电子枪? 全新的EM Wizard软件,无需设置参数即可获得高质量图片? 高分辨率和强大的分析能力? 样品适用性强:不导电样品直接观察(低真空功能,10-300Pa)? 全新的multi-finder功能,方便快捷的寻找样品? 附件功能强大:拉伸台,冷热台,电子束曝光,红外CCD,离子束清洁系统等。

Hitachi聚焦离子束 IM4050

Hitachi聚焦离子束 IM4050

  • 品牌: 日立
  • 型号: IM4050
  • 产地:日本
  • 供应商:似空科学仪器(上海)有限公司

    MI4050是高效率的聚焦离子束设备,它使用了全新的电子光学系统,具有世界领先的SIM图像分辨率,并且TEM样品制备效果优异。MI4050广泛用于截面观察、微电路修复、纳米图像制备和纳米沉积等。

超高分辨热场发射扫描电子显微镜

超高分辨热场发射扫描电子显微镜

  • 品牌: 日本电子
  • 型号: JSM-7610F
  • 产地:日本
  • 供应商:捷欧路(北京)科贸有限公司

    仪器简介: JSM-7600F是日本电子株式会社2008年下半年推出的兼顾冷场的高分辨率和热场大束流为一体的热场发射扫描电镜,它几乎集成了当今扫描电镜的全部前沿技术,最大200nA的大电流在保证高分辨率的同时,得到高速样品分析结果,空间分辨率极高,对导电性差的样品也有很多解决办法。JSM-7600F自动化程度高,操作直观方便,可以称得上是一款高档次的场发射扫描电镜。详情请咨询日本电子株式会社各地事务所。技术参数:1.分辨率:1.0nm(15kV)/1.3nm(1kV)2.加速电压:0.1KV-30kV3.放大倍数:25-100万倍4.样品室尺寸:最大200mm直径样品5.束流强度:1pA到200nA主要特点:长寿命高亮度电子枪,寿命保3年,最大电流400nA以上兼顾超高分辨和大电流无漏磁和半漏磁物镜可切换标配的五轴马达驱动全对中样品台全自动样品更换气锁全自动样品台监控系统全自动物镜光阑多通道显示系统减速系统标准配置能量过滤器标准配置可以选配1.5nm高分辨LABE背散射电子探头可以选配扫描投射探头(STEM)

JSM-IT200 InTouchScope? 扫描电子显微镜

JSM-IT200 InTouchScope? 扫描电子显微镜

JSM-IT500HR 扫描电子显微镜

JSM-IT500HR 扫描电子显微镜

  • 品牌: 日本电子
  • 型号: JSM-IT500HR
  • 产地:日本
  • 供应商:捷欧路(北京)科贸有限公司

    JEOL InTouchScope?系列的新机型, 采用新开发的高亮度电子枪和透镜系统,可以更迅速便捷地提供令人惊叹的高分辨率图像、高灵敏度和高空间分辨率;从设定视野到生成报告,利用完全集成的软件大大地提高了作业速度。

Serial Block-face SEM 3View

Serial Block-face SEM 3View

  • 品牌: 日本电子
  • 型号: Serial Block-face SEM 3View
  • 产地:日本
  • 供应商:捷欧路(北京)科贸有限公司

    肖特基场发射扫描电子显微镜能长时间稳定地提供高电流下的微细探针,与View?2XP(Gatan公司制造)结合使用,能对样品进行自动切割,自动获取图像。通过对获得的图像进行三维重构,可以对精细结构进行三维分析。

JED-2300/2300F 能谱仪

JED-2300/2300F 能谱仪

  • 品牌: 日本电子
  • 型号: JED-2300/2300F
  • 产地:日本
  • 供应商:捷欧路(北京)科贸有限公司

    JED-2300/2300F Analysis Station是以“图像观察和分析“ 为基本理念的TEM/EDS集成系统。通过与SEM的马达驱动样品台联动使用,可以进行大范围的观察和分析。 EDS通过检测被电子束激发出的样品特征X射线,确定样品含有的元素及成分比,可以进行微区的点分析、线分析及面分析。

JCM-7000 NeoScope? 台式扫描电子显微镜

JCM-7000 NeoScope? 台式扫描电子显微镜

  • 品牌: 日本电子
  • 型号: JCM-7000 NeoScope?
  • 产地:日本
  • 供应商:深圳市蓝星宇电子科技有限公司

    1. 只要放大光学像就能观察SEM像的Zeromag功能; 2. 即使不切换到EDS模式也能知道图片视野中的元素的Live analysis功能。

JSM-IT200 InTouchScope 扫描电子显微镜

JSM-IT200 InTouchScope 扫描电子显微镜

  • 品牌: 日本电子
  • 型号: JSM-IT200 InTouchScope
  • 产地:日本
  • 供应商:深圳市蓝星宇电子科技有限公司

    1. 只要放大光学像就能观察SEM像的Zeromag功能; 2. 即使不切换到EDS模式也能知道图片视野中的元素的Live analysis功能。

JSM-7610FPlus 热场发射扫描电子显微镜

JSM-7610FPlus 热场发射扫描电子显微镜

  • 品牌: 日本电子
  • 型号: JSM-7610FPlus
  • 产地:日本
  • 供应商:深圳市蓝星宇电子科技有限公司

    JSM-7610FPlus 热场发射扫描电子显微镜,实现了分辨率15kV 0.8nm、1kV 1.0nm的进一步提升,采用半浸没式物镜和High Power Optics照明系统,提供稳定的高空间分辨率观察和分析。

JSM-IT500HR 扫描电子显微镜

JSM-IT500HR 扫描电子显微镜

  • 品牌: 日本电子
  • 型号: JSM-IT500HR
  • 产地:日本
  • 供应商:深圳市蓝星宇电子科技有限公司

    日本JEOL JSM-IT500HR 扫描电子显微镜,采用了新开发的高亮度电子枪和透镜系统,因而能获得令人惊叹的高画质图像。即使对实时图像,也能轻松地在CCD图像上从寻找视野迅速过渡到高倍率(×100,000)观察。

JSM-7900F 热场发射扫描电子显微镜

JSM-7900F 热场发射扫描电子显微镜

  • 品牌: 日本电子
  • 型号: JSM-7900F
  • 产地:日本
  • 供应商:深圳市蓝星宇电子科技有限公司

    JSM-7900F 热场发射扫描电子显微镜,它继承了上一代广获好评的性能如极高的空间分辨率、高稳定性、多种功能等的同时,操作性能极大简单化。该设备不依赖操作者的技能,始终能够发挥其zui佳性能。

Serial Block-face SEM 3View 发射扫描电子显微镜

Serial Block-face SEM 3View 发射扫描电子显微镜

  • 品牌: 日本电子
  • 型号: Serial Block-face SEM 3View
  • 产地:日本
  • 供应商:深圳市蓝星宇电子科技有限公司

    Serial Block-face SEM 3View 发射扫描电子显微镜,肖特基场发射扫描电子显微镜能长时间稳定地提供高电流下的微细探针,与3View?2XP(Gatan公司制造)结合使用,能对样品进行自动切割,自动获取图像。通过对获得的图像进行三维重构,可以对精细结构进行三维分析。

JSM-IT500 扫描电子显微镜

JSM-IT500 扫描电子显微镜

  • 品牌: 日本电子
  • 型号: JSM-IT500
  • 产地:日本
  • 供应商:深圳市蓝星宇电子科技有限公司

    日本JEOL JSM-IT500 扫描电子显微镜,是JEOL InTouchScope系列的新机型。 从设定视野到生成报告,用于分析的软件整合于一体,加快了作业速度!是一款无缝操作,使用更加方便的扫描电子显微镜。

JSM-7200F 热场发射扫描电子显微镜

JSM-7200F 热场发射扫描电子显微镜

  • 品牌: 日本电子
  • 型号: JSM-7200F
  • 产地:日本
  • 供应商:深圳市蓝星宇电子科技有限公司

    JSM-7200F 热场发射扫描电子显微镜,应用了日本电子旗舰机-JSM-7800F Prime采用的浸没式肖特基电子枪技术,标配了TTLS系统(Through-The-Lens System),因此无论是在高/低加速电压下,空间分辨率都比传统机型有了很大的提升。

KSI V-duo 双探头超声波扫描显微镜系统

KSI V-duo 双探头超声波扫描显微镜系统

ZEISS聚焦离子束扫描电镜Crossbeam 350

ZEISS聚焦离子束扫描电镜Crossbeam 350

  • 品牌: 德国蔡司
  • 型号: Crossbeam 350,Crossbeam 550
  • 产地:德国
  • 供应商:深圳市蓝星宇电子科技有限公司

    德国ZEISS蔡司聚焦离子束扫描电镜FIB/SEM,Crossbeam 350,Crossbeam 550,标准样品仓有18个扩展接口,加大样品仓有22个扩展接口。

JSM-F100 热场发射扫描电子显微镜

JSM-F100 热场发射扫描电子显微镜

  • 品牌: 日本电子
  • 型号: JSM-F100
  • 产地:日本
  • 供应商:捷欧路(北京)科贸有限公司

    JSM-F100集成了备受推崇的In-lens Schottky Plus Gun和电子光学控制系统Neo Engine,一个新开发的操作GUI“SEM Center”和一个创新的Live-AI filter, 实现了高空间分辨率成像观察和高可操作性。JSM-F100的工作效率比之前的JSM-7000系列高50%或更高。

JCM-7000 NeoScope? 台式扫描电子显微镜

JCM-7000 NeoScope? 台式扫描电子显微镜

JSM-7200F 热场发射扫描电子显微镜

JSM-7200F 热场发射扫描电子显微镜

  • 品牌: 日本电子
  • 型号: JSM-7200F
  • 产地:日本
  • 供应商:捷欧路(北京)科贸有限公司

    JSM-7200F的电子光学系统应用了日本电子旗舰机-JSM-7800F Prime采用的浸没式肖特基电子枪技术,标配了TTLS系统(Through-The-Lens System),因此无论是在高/低加速电压下,空间分辨率都比传统机型有了很大的提升。

Helios DualBeam?扫描电子显微镜

Helios DualBeam?扫描电子显微镜

  • 品牌: 赛默飞世尔
  • 型号: Helios DualBeam?
  • 产地:其它
  • 供应商:赛默飞世尔材料与结构分析

    采用最佳电子和离子光学系统、配件和软件,能够为尖端纳米量级研究提供强大的解决方案。 借助极具价值的亚纳米 SEM 成像技术、S/TEM 超薄样本制备能力以及最精确的原型设计功能。 Helios NanoLab 是一款极其灵活的平台,既能以极高的效率制备 TEM 样本,又能开展高性能低电压成像以分析高级逻辑和存储器件 自动化序列样本铣削和成像功能,客户可以创建二维序列图像,进而开展三维容积重建。根据这些数据,客户可以在微米至纳米量级别观测和量化孔隙网络等纹理。 Helios NanoLab 具有卓越的 SEM 性能和可靠、精确的 FIB 切片能力,还配备了高精度压电工作台,堪称小型 DualBeam 平台的极致之选。出色的成像能力,辅以透镜内和柱内检测器提供的尖端高对比度检测技术,能够实现真正卓越的对比度。

日本电子JSM-6510扫描式电子显微镜

日本电子JSM-6510扫描式电子显微镜

  • 品牌: 日本电子
  • 型号: JSM 6510
  • 产地:日本
  • 供应商:怡星有限公司STARJOY LIMITED

    仪器简介:JSM-6510是一款高性能低格的描子微,解析度可3.0nm。可按用要求定做的操作介面便於用直操作器。SmileShot保得到最佳子光。JSM-6510的LGS型大品台和GS型普通品台可分6英寸直和32mm直的品。技术参数:放大倍: 5-300,000倍解 析 度: 高真空:3nm(30KV)/8nm(3KV)/15nm(1KV) 低真空:4.0nm(30KV) 子 : 全自,亦可手整 品 台: 大全中型X=80mm,Y=40mm,Z=5到48mm,斜:-10 - +90度,旋:360度 : 工中()像模式: 二次子像,成份像,拓像,影像加速: 0.5-30KV聚 光 : 可焦聚光物 : 超形物物光: 3,X-Y可 位 移: ±50微米自功能: 聚焦,亮度,度,消像散最大品: 直:150mm品交: 抽拉式品台真空系: 全自散泵DP。分子泵TMP()作系: Windows XP主要特点:1. 大的子光系,操作最新的超型物,保3nm的解析度。很容易得到高品照片。域描圈可以得到最低5倍的放大倍而提高察品的效率。秀的子光系可以在大束流下形成小束斑,有利於微分析。2. 高解析度JSM6510系列超形物,在工作距8mm的解析度3nm,超形物的外形可以做到短工作距情下品仍然可以大角度斜。3. 全自子JEOL的全自子能生小子束源,只要好加速,就可以行察或成分分析。子偏是子亮度的重要部件。JEOL的自加系能著化整偏,使得哪加速,都能得到最佳亮度。JEOL有的像散功能能自正加速或工作距改而生的像散。4. 多示模式主示可以同示幅即像,分二次子像和背散射子像,考也可 示2幅即像,例如二次子像,背散射子像或者CCD相像。即示模式可以用於不同信像的比,用可在察表面形貌的同解品的成份分情。用多像示模式,"PHOTO"按可同得存2或3幅全屏尺度像。5. 易懂的操作介面及功能表操作介面,直,默的操作介面示了最常用的功能按,以文明,滑鼠即可操作所有功能。即量,片上的度和角度等能在示器上行量。6. 可焦聚光修正做表面察和元素分析等不同用,合束流非常重要,一般是通聚光物光控制子束流的。如果在整束流程中,焦和察域位移化很小, 整起比方便。JEOL有的可焦聚光可以保一。7. 全中品台品台斜,全中品台可使像位移和焦化最小。使用此品台可多方向察粗糙表面品,用一些不同角度取的片成立片,可通立片察深度。焦在品斜後X,Y或旋方向化很小,使大品巡效率很高。8. 低真空SEM低真空描,除了包括高真空模式外,包括低真空模式,在低真空模式下,不品以及容易放的品都可以直接察。合JEOL有的冷乾燥技,可在低真空模式下快速察含水品。

FEI “Quanta FEG系列” 场发射环境扫描电子显微镜”

FEI “Quanta FEG系列” 场发射环境扫描电子显微镜”

  • 品牌: 美国FEI
  • 型号: Quanta 250FEG/450FEG/650FEG
  • 产地:美国
  • 供应商:广州贝拓科学技术有限公司

    仪器简介:QuantaFEG系列场发射环境扫描电子显微镜是FEI公司的最新产品之一。是在FEI公司著名产品XL30ESEM-FEG场发射环境扫描电子显微镜的基础上发展而来的。QuantaFEG场发射环境扫描电子显微镜综合场发射电镜高分辨和ESEM环境扫描电镜适合样品多样性的优势,可对各种各样的样品(包括导电样品、不导电样品、含水含油样品、加热样品等等)进行高分辨的静态和动态观察和分析。QuantaFEG和Quanta一样具有优异的系统扩展性能,可同时安装能谱仪、波谱仪、EBSP、阴极荧光等附件。主要特点:1.完全数字化系统控制,Windows XP操作系统2.场发射环境扫描系统兼顾高分辨和样品多样性3.数字电影功能可将观察过程记录为avi视频文件4.稳定的大束流(最大200nA)确保高速、准确的能谱、波谱和EBSD分析5.可安装冷台、加热台、拉伸台等进行样品原位、动态观察和分析技术参数:1.分辨率: 二次电子:  高真空模式 1.0nm @ 30kV; 3.0nm @ 1kV  高真空减速模式 2.3nm @ 1kV, 3.1nm @ 200V (可选项)  低真空模式 1.4nm @ 30kV; 3.0nm @ 3kV  环境真空模式 1.4nm @ 30kV 背散射电子:  高真空和低真空模式: 2.5nm @ 30kV 扫描透射STEM探测器:  0.8nm @ 30kV2.加速电压 200V ~ 30kV, 连续可调3.高稳定性Schottky场发射电子枪4.最大束流 200nA5.样品室压力最高达4000Pa6.样品台移动范围 Quanta 250 FEG: X=Y=50mm Quanta 450 FEG: X=Y=100mm Quanta 650 FEG: X=Y=150mm

FEI “Q系列”扫描电子显微镜

FEI “Q系列”扫描电子显微镜

  • 品牌: 美国FEI
  • 型号: Q25/Q45
  • 产地:美国
  • 供应商:广州贝拓科学技术有限公司

    对于失效分析、质量控制和材料表征而言、Q25是最经济、最高效的高分辨成像和分析应用的解决方案。在设计上侧重易用性、Q25可以让用户迅速得到他们所需的数据。为应对不导电样品、Q25提供了低真空模式下的高性能、消除了对专用的样品制备步骤或者附加的样品镀膜仪的需求。Q25样品室的设计和真空系统能够快速更换样品、允许日常高效、快速检测样品。为满足客户对大样品或块状样品的要求、Q45提供了更大的真空样品室和100mm的样品台行程。另外、Q45加上了环境扫描(ESEM)模式、扩展了SEM的成像和分析功能到加热、含水或放气的样品。? 简单易用,即使是新手利用直观的软件可实现高效操作。? 利用稳定的高束流(上至2 μA)电子束可以迅速获得精确的分析结果。?快速轻松表征导电和非导电样品? 支持可选的分析功能。利用独有的多级穿过透镜的真空系统在高真空和低真空下使导电样品和不导电样品的精确EDS分析成为可能。? Q45 SEM: 采用为ESEM选配的帕尔贴冷台可在样品的自然含水状态下完成样品的动态原位分析。分辨率加速电压探针电流 样品台放大率试件室尺寸Q25 SEMHigh vacuum3.0 nm at 30 kV (SE)4.0 nm at 30 kV (BSE)*8.0 nm at 3 kV (SE)Low vacuum3.0 nm at 30 kV (SE)4.0 nm at 30k V (BSE)*10 nm at 3 kV (SE)*optional200 V - 30 kVup to 2 μA, continuously adjusted13 to 1000000x284 mm size left to rightQ45 SEMHigh vacuum3.0 nm at 30 kV (SE)4.0 nm at 30 kV (BSE)*8.0 nm at 3 kV (SE)High vacuum with beam deceleration option 7.0 nm at 3 kV(BD mode* + vCD*)Low vacuum3.0 nm at 30 kV (SE)4.0 nm at 30k V (BSE)*10 nm at 3 kV (SE)Extended vacuum mode (ESEM)3.0 nm at 30 kV (SE)*optional200 V - 30 kVup to 2 μA, continuously adjusted6 to 1000000x284 mm size left to right

QEMSCAN 650F岩芯、岩屑自动定量分析系统

QEMSCAN 650F岩芯、岩屑自动定量分析系统

  • 品牌: 美国FEI
  • 型号: QEMSCAN 650F
  • 产地:美国
  • 供应商:北京源海威科技有限公司

    一、设备介绍QEMSCAN岩芯、岩屑分析系统是一个高速自动化的矿物参数自动定量分析系统。能对样品进行矿物物质组成、岩石特征、成份定量、矿物嵌布特征、矿物粒级分布、矿物解离度等重要参数进行自动定量分析,主要用于石油、矿业、冶金、地质等领域。QEMSCAN系统在石油领域的应用包括:1)钻芯、钻削矿物组成、岩石类型分析2)钻井数据集累3)石油、天然气勘探4)石油、天然气资源、藏量评估5)生产井位置选择6)卡钻事故预防QEMSCAN岩芯、岩屑分析系统采用FEI公司Quanta 650F 场发射环境扫描电镜作作为最主要的硬件平台。Quanta 650F 场发射环境扫描电镜利用电子束激发样品产生的二次电子、背散射电子以及X射线等信号,以获得样品表面形貌,结合能谱仪等分析仪器可以对微区成分进行检测,是用于试样的显微形貌观察及微区成分分析的必备手段,除气体以外的试样均可用扫描电镜进行观察。在石油天然气领域,Quanta 650F适用于观察非常规油气样品的微纳米孔隙结构、大小、类型、微裂缝发育等;用于研究微纳孔隙及缝隙上附着的水、油或沥青,对岩石孔隙的含水饱和度及含油饱和度等进行研究二、QUANTA 650F多用途扫描电镜主要参数1、电子光学1)高分辨率肖特基场发射电子枪2)加速电压: 200 V - 30 kV3)束流: 最大200 nA并连续可调4)放大倍数: 6 x 1,000,000 x (四幅图像显示)2、分辨率1)30 kV下 3.0 nm(背散射探头)2)30 kV下 1.0 nm(二次电子探头)3)3 kV下 3.0 nm(二次电子探头)3、检测器1)高灵敏度、低电压固体背散射探头2)二次电子探头3)样品室红外 CCD 相机4、真空系统1)样品室真空度 (高真空模式) < 6e-4 Pa2)样品室真空度(低真空模式) < 10 to 130 Pa3)样品室真空度(环境真空模式) < 10 to 4000 Pa5、样品室1)左右内径 379mm2)10 mm 分析工作距离3)10个 探测器 / 附件接口4)EDS 采集角: 35°6、样品台1)X/Y = 150 mm2)Z = 65 mm3)Z向间隙 93.5mm4)倾斜:- 5° - + 70°5)连续旋转 360°6)复精度: 2 μm (X/Y 方向)7)伪全对中样品台7、SEM 计算机Windows 7操作系统8、能谱仪1)双硅漂移探头2)超快速脉冲处理3)电制冷 (无需液氮)

库赛姆(COXEM)EM-30超高分辨率台式扫描电镜

库赛姆(COXEM)EM-30超高分辨率台式扫描电镜

  • 品牌: 韩国库赛姆
  • 型号: EM-30
  • 产地:韩国
  • 供应商:北京天耀科技有限公司

    品牌:COXEM型号:EM-30制造商:韩国COXEM公司经销商:库赛姆中国免费咨询电话:400-101-5477售后服务电话:400-101-5466 产品简介:EM-30高分辨率台式(桌面式)扫描电镜打破了传统台式扫描电镜采用BSD探测器成像的局限性,利用创新的 双聚光镜成像技术,采用大型扫描电镜成像原理,使用二次电子探测器作为基础成像单元,从而可以获得更高的分辨率(<8nm),是真正意义上的高分辨率台式扫描电镜。技术特点: 1. 分辨率:业内最高的分辨率(<8nm),展现最真实、最丰富的组织细节2.加速电压:1-30kv, 满足不同条件下的分析需求3.放大倍数:x 20 - x 100,000 4.标配二次电子探测器,可选配能谱仪以及背散射电子探测器5.与传统钨灯丝相同的三级汇聚式电子光学系统6.样品台:自动样品台,操控灵活7 .最佳性价比技术指标:外形尺寸400(宽)x 600(长) x 550(高)mm,100kg分辨率8.0nm@30kV SE放大范围x 20 - x 100,000加速电压1kV 30kV (1/3/5/10./15/20. /30.kV)电子枪发叉式钨丝阴极探测器探测器首选 SE , BSE/EDS可选样品台X: 35mm (马达驱动), Y: 35mm (马达驱动),T: 0- 45°(马达驱动), R: 360°,Z: 0-50.mm样品尺寸45mm(高),60mm(直径)图像模式(像素)RED选区(320x240),TV(640x480),Slow(800x600)Photo(1280x960,2560x1920,5120.x3840)帧频RED (Max. 3D frames/sec). 1v(Max. 10 frames/sec) ,Slow(Max. 2 frames/sec)真空系统涡轮分子泵真空系统自动功能启动,聚焦,灯丝,亮度/对比度操作系统Windows 7操作方式键盘/鼠标

Versa? 3D 双束扫描电镜

Versa? 3D 双束扫描电镜

  • 品牌: 美国FEI
  • 型号: Versa? 3D DualBeam
  • 产地:荷兰
  • 供应商:赛默飞世尔材料与结构分析

    Versa 3D DualBeam凭借多年的积累以及在 DualBeam、低真空及 ESEM; 方面取得的成功经验,FEI 推出了迄今为止功能最为丰富的 DualBeam 仪器。无论多么富有挑战性的样本,Versa 3D 都能依靠其一流的成像和分析能力提供更丰富的三维数据。Versa 3D 拥有可灵活配置的平台,可使客户充分利用系统性能满足自身的特定需求。由于同时具有高真空和低真空模式,系统可灵活处理各类样本,包括无涂层和不导电样本。选配的 ESEM 模式能对自然水化物样本执行电子束成像,还支持使用额外的动态温度阶段执行原位分析和实验。Versa 3D 的材料科学应用研发新一代产品需要借助全新的材料科学工具和功能,以便为研究人员提供所需的表征数据,从而真正了解材料如何互相作用以及哪些特性对功能至关重要。这意味着要运用三维数据采集等技术充分了解材料特性。传统上,扫描电子显微镜 (SEM) 能满足大部分研究的需要,但要研发新一代材料,则既需要 SEM 也需要聚焦离子束 (FIB) 技术。在各类不同的 SEM/FIB 仪器中,Versa 3D 具有更为丰富的功能,能够满足高级材料分析需求,尤其是非导电材料和需要在自然状态下表征的样本。如果您已经熟悉 SEM,不妨设想一下使用 DualBeam 技术和 Versa 3D 可以开展的众多其他应用。您可以在一个平台上获得更多功能,而且研究方案所受的限制也更少。Versa 3D 的电子工业应用您确切地知道自己希望样本拥有怎样的特性。借助精密制备技术,Versa 3D 可确保您获得所需的样本,并使得这一样本适合用于您打算采用的分析技术。无论采用 STEM、TEM、原子探针显微术、热台和拉力试验、EBSD 分析或亚表层特征测量中的哪一种分析,Versa 3D 都能将使用 FIB 所固有的位置特异性与易于使用的自动化软件例程结合起来,使您能够利用这个强大的平台,迅速且充满自信地获得最高质量的样本。自动化程序可最大限度减少错误,同时减少了样本制备时间,这样您就能用更少的时间,对精确制备的高质量样本开展更多的深入分析

高速分析型场发射扫描电镜

高速分析型场发射扫描电镜

  • 品牌: 日本电子
  • 型号: JSM-7200F
  • 产地:日本
  • 供应商:捷欧路(北京)科贸有限公司

    JSM-7200F是日本电子株式会社(JEOL Ltd.)于2015年推出的一款多功能、简单易用的分析型场发射扫描电镜,这款高分辨率扫描电镜是进行样品纳米级图像显微分析与微区化学成分分析的理想选择。通过内的最佳光阑角控制透镜技术,JSM-7200F可以在任意加速电压下实现小束斑尺寸的大分析束流进而可以轻松实现100nm以内的高空间分辨率分析。JSM-7200F/LV配有大样品仓,非常适合于搭载的能谱仪、波谱仪、EBSD相机、CL阴极发光探测器、拉伸台、EBL以及SXES(JEOL专利技术,通过探测低能量的波长从而获得样品的化学价态信息)等分析探测器。同时,JSM-7200F具有抽屉式样品仓可以安装诸如加热、拉伸以及冷冻样品台进行原位分析。

大气压扫描电镜

大气压扫描电镜

  • 品牌: 日本电子
  • 型号: JASM-6200
  • 产地:日本
  • 供应商:捷欧路(北京)科贸有限公司

    设计亮点 1. 大气压下对样品直接观察 2.样品无需任何处理,真正的原貌观察 3.特别适用领域:生物样品、水泥、含油样品等

冷场发射扫描电子显微镜

冷场发射扫描电子显微镜

  • 品牌: 日本电子
  • 型号: JSM-7500F
  • 产地:日本
  • 供应商:捷欧路(北京)科贸有限公司

    技术参数:1.分辨率:1.0nm(15kV)/1.4nm(1kV) 2.加速电压:0.1KV-30kV 3.放大倍数:25-100万倍 4.样品室尺寸:最大200mm直径样品 5.束流强度:10-13到2X10-9 主要特点:1.主动式减震器 2.最先进的磁悬浮分子泵系统,无需UPS保护 3.标配的五轴马达驱动全对中样品台 4.全自动样品更换气锁 5.全自动样品监控系统 6.全自动物镜光阑 7.多通道显示系统 8.自动减速系统标准配置

JEOL JIB-4610F 聚焦离子束(FIB)

JEOL JIB-4610F 聚焦离子束(FIB)

  • 品牌: 日本电子
  • 型号: JIB-4610F
  • 产地:日本
  • 供应商:捷欧路(北京)科贸有限公司

    仪器简介:JIB-4610F是集成扫描电镜和聚焦离子束于一身高性能仪器。电子光学系统采用场发射电子枪,可以对进行实时研磨监控。该仪器又是一个微区观察、样品分析、微区研磨的集合体,应用范围广泛。技术参数:FIB 分辨率: 5nm, 30kV SEM分辨率: 1.2nm, 30kV (LaB6) FIB束流:最大90nASEM束流:最大200nA气体输入系统 x1-3主要特点:1.监控、切割、组装和三维图像重构连续操作 2大束流,最大90nA 3.提供空前稳定的图像 4.气体注入系统用于刻蚀和沉积 5.最大装样 150 mm 6.气锁式样品交换 7.五轴全对中样品台 8.多个样品分析接口

钨灯丝扫描电子显微镜

钨灯丝扫描电子显微镜

  • 品牌: 日本电子
  • 型号: JSM-IT100
  • 产地:日本
  • 供应商:捷欧路(北京)科贸有限公司

    JSM-IT100钨灯丝扫描电镜,是日本电子株式会社在2015年9月推出的新型号数字化扫描电镜。是近几年销售名列前茅并深受好评的JSM-6000系列钨灯丝扫描电镜的升级产品,并保留了JSM-6000系列良好的操作界面和出色稳定的控制系统,操作更加简单,堪称世界上最先进的钨灯丝扫描电子显微镜。主要特点为全数字化控制系统,高分辨率、高精度的变焦聚光镜系统、全对中样品台及高灵敏度半导体背散射探头;用于各种材料的形貌组织观察、金属材料断口分析和失效分析。该型号在很多大学、研究院所及制造业被广泛使用。

高速分析热场发射扫描电子显微镜

高速分析热场发射扫描电子显微镜

  • 品牌: 日本电子
  • 型号: JSM-7001F
  • 产地:日本
  • 供应商:捷欧路(北京)科贸有限公司

    技术参数:1.分辨率:1.2nm(30kV)/3.0nm(1kV)2.加速电压:0.2KV-30kV3.放大倍数:10-100万倍4.大束流高分辨5nA,WD10mm,15kV时分辨率3.0nm5.束流强度:1pA到200nA(15KV)主要特点:1.浸没式热场发射电子枪,束流强度最大200nA(15KV)2.无漏磁物镜设计,便于磁性样品观测和EBSP观测不变形3.自动光阑角控制器,无需调整光阑4.全自动控制聚焦、合轴、消像散、控制扫描速度5.适于配合多种分析性探头

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